- 10nm đến 3500μm, DLOIS cung cấp phạm vi đo rộng hơn.
- Góc phát hiện lên tới 165 độ để đo các hạt có tỷ lệ nhỏ hơn 5%.
- Nguồn laser đơn mang lại bước sóng và mốc chuẩn nhất quán, cung cấp sai số lặp lại dưới 0,5%.
Đổi mới và học tập R & D
R & D chuyên sâu
Công nghệ đổi mới: đo lường
Dual lenses & oblique incidence optical system (DLOIS)
Nhiễu xạ laser + chụp ảnh tự động
Đo chỉ số khúc xạ
Công nghệ đổi mới: tự động hóa
Tự động lưu thông & phân tán
Quy trình hoạt động tiêu chuẩn (SOP)
Định tâm laser tự động