Thiết bị phân tích kích thước hạt và hình dạng hạt Laser

1)Tổng quan về thiết bị phân tích kích thước hạt Bettersizer S3 Plus
Dụng cụ kiểm tra kích thước hạt Bettersizer S3 Plus là thiết bị phân tích kích thước hạt nhiễu xạ laser được trang bị thêm hai camera CCD tốc độ cao (độ phóng đại 0,5X và 10X) để chụp ảnh mẫu được đo.
Trong quá trình đo, các hạt phân tán trong môi trường lựa chọn được bơm qua hai cuvet đo. Trong lần đầu tiên, ánh sáng laser sóng ngắn (532nm) đi qua mẫu và bị tán xạ tùy thuộc vào kích thước hạt. 96 máy dò phát hiện tín hiệu quang trong phạm vi góc 0,02 ° - 165 °.
Các camera CCD liên tục chụp ảnh thông qua cuvette thứ hai, để cung cấp phân tích hình ảnh của các hạt trong phạm vi từ 2 đến 3500.



2)Công nghệ ống kính kép được cấp bằng sáng chế - DLOIOS
DLOIOS là một công nghệ mới được Bettersize cấp bằng sáng chế dựa trên hệ thống quang học Fourier.
Thấu kính bổ sung giữa laser và tế bào mẫu (Lens 2) chuyển đổi chùm tia laser phân kỳ thành chùm tia song song và cho phép phát hiện ánh sáng tán xạ ngược.
Chỉ sử dụng một tia laser cung cấp phổ trải rộng liên tục với bước sóng nhất quán, tần số ánh sáng xiên và thiết kế đặc biệt này cho phép phát hiện trong phạm vi góc 0,02 ° - 165 °. Công nghệ DLOIOS đảm bảo đo các hạt đáng tin cậy với phạm vi kích thước từ 10nm đến 3500 micron.
Công nghệ camera CCD
Hệ thống hình ảnh quang học của thiết bị phân tích kích thước hạt Bettersizer S3 Plus bao gồm hai camera tốc độ cao và ống kính viễn thông có độ chính xác cao, có thể chụp và đánh giá hơn 10.000 hạt mỗi phút mà không làm mờ hình ảnh. Cả hai máy ảnh có thể được sử dụng riêng lẻ hoặc đồng thời để quan sát mẫu để phân tích hình ảnh.

3)Phương pháp nhiễu xạ laser theo tiêu chuẩn ISO 13320
Sự phân bố kích thước hạt của các hạt mịn (nanomet, subicron và micron) được xác định chính xác bằng kỹ thuật DLOIOS. Phạm vi đo ánh sáng tán xạ rộng (0,02° - 165°) đạt được cùng với số lượng lớn máy dò (96).
Việc đánh giá dựa trên lý thuyết Fraunhofer hoặc Mie phụ thuộc vào kích thước hạt và tính chất quang học.
Các công cụ hữu ích để đo kích thước hạt bao gồm hai máy ảnh như một công cụ hỗ trợ trực quan để kiểm tra hiệu quả phân tán và công cụ đo chỉ số khúc xạ cho các vật liệu có thông số quang không xác định.

4)Phương pháp kết hợp: phân tích hình ảnh động với nhiễu xạ laser
Đối với các mẫu có phạm vi kích thước hạt lớn và chứa các hạt thô, nên đo kết hợp nhiễu xạ laser với máy ảnh 0,5X CCD. Thiết bị phân tích kích thước hạt xạ laser Bettersizer S3 Plus thậm chí có thể phát hiện ít hơn 3% các hạt với sự có mặt của một số lượng lớn các hạt.

5)Phân tích hình dạng hạt
Hai máy ảnh tốc độ cao với độ phóng đại 0,5X và 10X có sẵn để phân tích hình dạng hạt. Chúng bao gồm phạm vi kích thước hạt từ 2 - 3500. phân tích hình dạng hạt được sử dụng khi đường kính hạt lớn hơn 4. Trong quá trình đo, các hạt liên tục được chụp ảnh, đánh giá và phân loại thống kê với tốc độ 10.000 hạt / phút. Các máy ảnh có thể được sử dụng riêng lẻ hoặc kết hợp.
Ngoài các đường kính tương đương tiêu chuẩn (diện tích bề mặt, tối đa (L) và tối thiểu (D), các thông số đặc biệt như tỷ lệ khung hình, Chiều dài/chiều rộng D, độ tròn, độ tròn và chu vi hạt được tính toán.

6)Ứng dụng của thiết bị phân tích kích thước hạt Bettersizer S3 Plus