Bettersize Instruments Ltd.
  • Bettersizer S3 Plus
  • Bettersizer S3 Plus
  • Bettersizer S3 Plus
  • Bettersizer S3 Plus
  • Bettersizer S3 Plus
  • Bettersizer S3 Plus
Phân tích kích thước hạt và hình dạng hạt hoàn chỉnh với một thiết bị

Nhờ thiết kế độc đáo và sáng tạo, máy phân tích kích thước hạt Bettersizer S3 Plus kết hợp các ưu điểm của các phương pháp đo kích thước hạt như "nhiễu xạ laser" và "phân tích hình ảnh động". Nó cung cấp một đặc tính toàn diện và chính xác của kiểm tra kích thước hạt và phân tích hình dạng hạt từ nanomet đến milimét.

Bettersizer S3 Plus

Thiết bị phân tích kích thước hạt Bettersizer S3 Plus kết hợp liền mạch nhiễu xạ laser và hình ảnh tự động, không chỉ có thể đạt được phạm vi kích thước rộng từ 0,01 đến 3500μm, mà còn có thể phân tích tất cả các thông số kích thước và hình dạng của nhiều loại vật liệu xếp chồng lên nhau. Hiệu suất đáng tin cậy và chế độ hoạt động thân thiện với người dùng làm cho thiết bị phân tích kích thước hạt Bettersizer S3 Plus trở thành lựa chọn tốt nhất để nghiên cứu đặc tính vật liệu.

• Đo lường: Kích thước hạt và hình dạng hạt
• Kích thước hạt từ 0,01 đến 3500µm
• Hình dạng hạt từ 2 đến 3500µm
• Loại phân tán: Ướt
• Công nghệ: Nhiễu xạ laser + Chụp ảnh tự động
• Đo chỉ số khúc xạ tự động
• Đo chính xác các hạt nhỏ (từ 10nm) bằng công nghệ thấu kính kép được cấp bằng sáng chế: DLOIOS
• Phát hiện các hạt lớn với công nghệ hình ảnh lên tới 3,5 mm
• Dễ dàng thực hiện, tạo và sử dụng Quy trình vận hành tiêu chuẩn cho các vật liệu mới
• Tự động căn chỉnh hệ thống quang học
• Phần mềm thân thiện với người dùng, dễ học
• Công nghệ ống kính kép sáng tạo (DLOIOS)
- Đo chính xác các hạt mịn từ 10nm
- Công nghệ laser đơn cho phổ tán xạ liên tục
• Công nghệ camera tích hợp
- Độ chính xác cao hơn của phép đo hạt thô
- Phát hiện các hạt lớn, chất kết tụ hoặc bọt khí riêng lẻ
• Kích thước hạt và phân tích hình dạng hạt có thể được thực hiện bởi cùng một thiết bị
Tài liệu tải về
Tài liệu tải về Yêu cầu Demo

Mô hình

Bettersizer S3 Plus

Bettersizer S3

Phạm vi đo kích thước hạt

0.01-3500μm

0.01-3500μm

Phạm vi đo hình dạng hạt

2-3500μm

100-3500μm

Phương pháp đo

- Nhiễu xạ tia laser: DLOIOS

- Chụp ảnh tự động: ống kính 0,5x và ống kính 10x

- Nhiễu xạ tia laser: DLOIOS

- Chụp ảnh tự động: ống kính 0,5x

Hệ thống phân tán

Ướt

Ướt

Đo chỉ số khúc xạ

Yes

Yes


Sự khái quát

  • Nét đặc trưng
  • Hiệu suất
  • Công nghệ
  • Thông số kỹ thuật
  • Yêu cầu
1)Tổng quan về thiết bị phân tích kích thước hạt Bettersizer S3 Plus
Dụng cụ kiểm tra kích thước hạt Bettersizer S3 Plus là thiết bị phân tích kích thước hạt nhiễu xạ laser được trang bị thêm hai camera CCD tốc độ cao (độ phóng đại 0,5X và 10X) để chụp ảnh mẫu được đo.
Trong quá trình đo, các hạt phân tán trong môi trường lựa chọn được bơm qua hai cuvet đo. Trong lần đầu tiên, ánh sáng laser sóng ngắn (532nm) đi qua mẫu và bị tán xạ tùy thuộc vào kích thước hạt. 96 máy dò phát hiện tín hiệu quang trong phạm vi góc 0,02 ° - 165 °.
Các camera CCD liên tục chụp ảnh thông qua cuvette thứ hai, để cung cấp phân tích hình ảnh của các hạt trong phạm vi từ 2 đến 3500.

Bettersizer S3 Plus particle size analyzer overview


2)Công nghệ ống kính kép được cấp bằng sáng chế - DLOIOS
DLOIOS là một công nghệ mới được Bettersize cấp bằng sáng chế dựa trên hệ thống quang học Fourier.
Thấu kính bổ sung giữa laser và tế bào mẫu (Lens 2) chuyển đổi chùm tia laser phân kỳ thành chùm tia song song và cho phép phát hiện ánh sáng tán xạ ngược.
Chỉ sử dụng một tia laser cung cấp phổ trải rộng liên tục với bước sóng nhất quán, tần số ánh sáng xiên và thiết kế đặc biệt này cho phép phát hiện trong phạm vi góc 0,02 ° - 165 °. Công nghệ DLOIOS đảm bảo đo các hạt đáng tin cậy với phạm vi kích thước từ 10nm đến 3500 micron.
Công nghệ camera CCD
Hệ thống hình ảnh quang học của thiết bị phân tích kích thước hạt Bettersizer S3 Plus bao gồm hai camera tốc độ cao và ống kính viễn thông có độ chính xác cao, có thể chụp và đánh giá hơn 10.000 hạt mỗi phút mà không làm mờ hình ảnh. Cả hai máy ảnh có thể được sử dụng riêng lẻ hoặc đồng thời để quan sát mẫu để phân tích hình ảnh.
Patented dual lens technology - DLOIOS

3)Phương pháp nhiễu xạ laser theo tiêu chuẩn ISO 13320
Sự phân bố kích thước hạt của các hạt mịn (nanomet, subicron và micron) được xác định chính xác bằng kỹ thuật DLOIOS. Phạm vi đo ánh sáng tán xạ rộng (0,02° - 165°) đạt được cùng với số lượng lớn máy dò (96).
Việc đánh giá dựa trên lý thuyết Fraunhofer hoặc Mie phụ thuộc vào kích thước hạt và tính chất quang học.
Các công cụ hữu ích để đo kích thước hạt bao gồm hai máy ảnh như một công cụ hỗ trợ trực quan để kiểm tra hiệu quả phân tán và công cụ đo chỉ số khúc xạ cho các vật liệu có thông số quang không xác định.

4)Phương pháp kết hợp: phân tích hình ảnh động với nhiễu xạ laser
Đối với các mẫu có phạm vi kích thước hạt lớn và chứa các hạt thô, nên đo kết hợp nhiễu xạ laser với máy ảnh 0,5X CCD. Thiết bị phân tích kích thước hạt xạ laser Bettersizer S3 Plus thậm chí có thể phát hiện ít hơn 3% các hạt với sự có mặt của một số lượng lớn các hạt.

5)Phân tích hình dạng hạt
Hai máy ảnh tốc độ cao với độ phóng đại 0,5X và 10X có sẵn để phân tích hình dạng hạt. Chúng bao gồm phạm vi kích thước hạt từ 2 - 3500. phân tích hình dạng hạt được sử dụng khi đường kính hạt lớn hơn 4. Trong quá trình đo, các hạt liên tục được chụp ảnh, đánh giá và phân loại thống kê với tốc độ 10.000 hạt / phút. Các máy ảnh có thể được sử dụng riêng lẻ hoặc kết hợp.
Ngoài các đường kính tương đương tiêu chuẩn (diện tích bề mặt, tối đa (L) và tối thiểu (D), các thông số đặc biệt như tỷ lệ khung hình, Chiều dài/chiều rộng D, độ tròn, độ tròn và chu vi hạt được tính toán.
Particle shape analysis

6)Ứng dụng của thiết bị phân tích kích thước hạt Bettersizer S3 Plus
Application of Bettersizer S3 Plus particle size analyzer
Hiệu suất phân tích kích thước hạt tuyệt vời

Thiết bị phân tích kích thước hạt laser Bettersizer S3 Plus đã thiết lập một kỷ nguyên mới về đo kích thước và hình dạng hạt, và là đỉnh cao của nhiều năm kinh nghiệm nổi bật của chúng tôi trong phân tích kích thước và hình dạng hạt.

  • Sự chính xác

    Độ chính xác của thiết bị phân tích kích thước hạt laser Bettersizer S3 Plus được xác minh bằng các phép đo của tám mẫu chuẩn.
    Sự chính xác

  • Lặp lại

    Thiết bị phân tích kích thước hạt laser Bettersizer S3 Plus đo các mẫu với phạm vi phân phối rộng. Sáu kết quả đo lặp lại trong cùng điều kiện phân tích mang lại độ lặp lại tốt như thể hiện trong biểu đồ sau. Độ lệch lặp lại trung bình của D50 là 0,31%.
    Lặp lại

  • Nghị quyết

    Kiểm tra giới hạn phát hiện: Một mẫu chuẩn tham chiếu hỗn hợp gồm 3.1 đường kính và 5.1 đường kính danh nghĩa được sử dụng để đánh giá độ phân giải của thiết bị  phân tích kích thước hạt Bettersizer S3 Plus so với thiết bị định cỡ hạt chuẩn của ngành. Tỷ lệ pha trộn 1,65 đã được sử dụng cho thử nghiệm. Thiết bị phân tích hạt Bettersizer S3 Plus giải quyết rõ ràng công cụ đo điểm chuẩn như trong các biểu đồ sau.
    Nghị quyết

  • Nhạy cảm

    Phương pháp thử: Phép đo với mẫu chuẩn đối chiếu hỗn hợp là 0,3mm, 0,85mm và 3,5mm được thực hiện đối với dụng cụ đo chuẩn. Thiết bị phân tích kích thước hạt nhiễu xạ laser Bettersizer S3 Plus phân giải ba đỉnh trong kết quả đo, trong khi dụng cụ đo chuẩn chỉ có thể phân giải hai đỉnh.
    Nhạy cảm
Bettersizer S3 Plus
Nguyên tắc đo lường: Nhiễu xạ tia laser + Phân tích hình ảnh động
Lý thuyết phân tích: Mie hoặc Fraunhofer
Các ứng dụng: huyền phù, nhũ tương, bột khô
Phạm vi đo: 0,01 - 3500
Cấp hạt: > 100 /tùy chỉnh riêng
Thời gian đo thông thường:  <10 giây
Lỗi chính xác / lỗi lặp lại / lỗi tái sản xuất: <0.5% / <0.5% / <1.0% (GBRM D50)
Lưu hành / Phân tán / Khối lượng: Bơm ly tâm / Siêu âm (50 W) / 600 ml
Laser: số / loại / bước sóng / công suất / lớp: 1 / Diode laser (DPSSL) / 532nm (xanh) / 5 mW / Loại 1
Ống kính: thiết kế / sắp xếp: F-Theta / Ống kính kép Quang học Fourier, tỷ lệ xiên
Độ dài tiêu cự hiệu quả: 223 mm, phân tích hình ảnh: 110 mm
Kênh dò / Phạm vi góc: 96 (tiến, ngang và lùi) / 0,02 ° - 165 °
Các tính năng đặc biệt: hình dạng hạt (L / D, độ tròn, v.v.), chiết suất
Sự phù hợp: 21 CFR Phần 11, ISO 13320, CE
Xuất dữ liệu: Excel, PDF, Word, JPG, v.v.
Kích thước/Trọng lượng: 820 x 650 x 320 mm (L x W x H)/30 kg
Hệ điều hành được đề xuất: Windows 7 trở lên, Intel Core i5, RAM 4 GB, USB 2.0

Nếu bạn muốn biết giá của máy phân tích kích thước hạt nhiễu xạ laser của Bettersizer S3 Plus của chúng tôi, vui lòng để lại tin nhắn hoặc liên hệ với chúng tôi qua địa chỉ info@bettersize.com

Để lại tin nhắn cho chúng tôi:

Thiết bị phân tích kích thước hạt liên quan

  • No.9, Ganquan Road, Jinquan Industrial Park, Dandong, Liaoning, China.
    No.9, Ganquan Road, Jinquan Industrial Park, Dandong, Liaoning, China.
  • info@bettersize.com info@bettersize.com
  • 86-415-6163800
    86-415-6163800
Copyright © Bettersize Instruments Ltd. All Rights Reserved
Sitemap | Privacy Policy
Bettersizer S3 Plus